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内田 治 株式会社オーム社アールニヨルノンパラメトリックケンテイ ウチダ オサム 発行年月：2017年11月11日 予約締切日：2017年11月10日 ページ数：208p サイズ：単行本 ISBN：9784274221378 内田治（ウチダオサム） 東京情報大学総合情報学部総合情報学科准教授。専門：統計学・実験計画法・多変量解析（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです） 第1章 仮説検定の概要/第2章 ノンパラメトリック検定の概要/第3章 二項検定/第4章 適合度検定/第5章 独立サンプルの比較/第6章 対応サンプルの比較/第7章 関係性の検定/付録 分析の対象となるデータが正規分布でないときやデータに異常値が含まれているときでも適用が可能なノンパラメトリック検定。「R」を使って問題を解きながら、理解を深めていきます。 本 科学・技術 数学
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