Zuverl?ssige Bauelemente f?r elektronische Systeme Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Pr?ffeldpraxis, Qualit?ts?berwachung

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Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverl?ssigkeit sind erg?nzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erh?lt der Leser pr?zise, praxisnah und umfassend s?mtliche Zuverl?ssigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik ?ber die Pr?ffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualit?ts?berwachung.画面が切り替わりますので、しばらくお待ち下さい。
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