Semiconductor X-Ray Detectors - AQA1! オンラインショッピング

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Identifying and measuring the elemental x-rays released when materials are examined with particles (electrons, protons, alpha particles, etc.) or photons (x-rays and gamma rays) is still considered to be the primary analytical technique for routine and non-destructive materials analysis. The Lithium Drifted Silicon (Si(Li)) X-Ray Detector, with its画面が切り替わりますので、しばらくお待ち下さい。
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